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膜厚儀測量注意事項
點擊次數:1947 更新時間:2019-04-25
 

涂層測厚儀又稱膜厚儀、鍍層測厚儀或漆膜測厚儀。主要針對金屬基材上面的涂鍍層厚度測試。 涂層測厚儀測量時注意事項如下:
1,基體金屬特性:對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面 粗糙 度 ,應當與試件基體金屬的磁性和表面 粗糙度 相似。
2,基體金屬厚度:檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,進行校準后,可以測量。
3,邊緣效應:不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
4,曲率:不應在試件的彎曲表面上測量。
5,讀數次數:通常由于儀器的每次讀數并不*相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。
6,表面清潔度:測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質。
7,磁場:周圍各種電氣設備所產生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作
8,測頭取向:測頭的放置方式對測量有影響,在測量時應該與工件保持垂直

 
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